Az érintés ereje: agyi endotélsejtek az atomerő mikroszkópban

Nagy felbontású képeket nem csak fény segítségével, hanem „érintéssel” is készíthetünk, nemes egyszerűséggel letapogatva a vizsgált objektumot. Ezt az elgondolást valósítják meg a pásztázó tő-szondás mikroszkópok (SPM). A népes mikroszkóp családba tartózó atomi erő mikroszkópot (AFM) 1986-ban fejlesztették ki G. Binnig és munkatársai. Az SPM technikákat, ezen belül is az AFM-et nagyon széles körben alkalmazzák napjainkban biológiai rendszerek, makromolekulák vagy akár élő sejtek nanomechanikai tanulmányozására. Készíthetünk rugalmasságtérképeket nanométeres felbontással, vagy akár két elő sejt közötti tapadási mintázatot is vizsgálhatjuk pico Newtonos erő felbontással. Például különböző eredetű daganatsejtek tapadási mintázatának megismerése révén közelebb kerülhetünk áttétképzési mechanizmusaik megértéséhez, vagy akár potenciális antimetasztatikus szerek kifejlesztéséhez. Sikeres kísérleteink eredményei nemcsak új fundamentális tudáshoz vezethetnek, hanem a diagnosztika, terápia, valamint antimetasztatikus gyógyszerfejlesztés hatékonyságának növeléséhez is hozzájárulhatnak. Laborbemutatónk során az érdeklődők betekintést nyerhetnek az érintés erejének alkalmazásaiba, az atomerő-mikroszkóp működését, valamint alkalmazási lehetőségeit is megtekinthetik. Szereplők: Dr. Végh Attila Gergely